Qfn24-0.5 чип тестовая база флип-старение база для программирования позолоченный штифт KZT
  • Qfn24-0.5 чип тестовая база флип-старение база для программирования позолоченный штифт KZT
  • Qfn24-0.5 чип тестовая база флип-старение база для программирования позолоченный штифт KZT
  • Qfn24-0.5 чип тестовая база флип-старение база для программирования позолоченный штифт KZT
  • Qfn24-0.5 чип тестовая база флип-старение база для программирования позолоченный штифт KZT

Qfn24-0.5 чип тестовая база флип-старение база для программирования позолоченный штифт KZT

2 310 руб.

Описание

QFN24 (4*4)-0,5 старение сиденья откидной пружины

Краткое описание продукта

A. Использование продукта:БЛОК ПРОГРАММИРОВАНИЯ, тестовый стенд, YesQFN12OfICChip горение, тест

B. Применимая Инкапсуляция:QFN24 Pin spacing0.5mm

C. Испытательный стенд:QFN24-0.5

D, характеристика:UseUType наперсток, более стабильный контакт

E. Division ISpecifications Доступные (макет диаграммы) данные, PDFfiles \ CAD

F. Срок службы: 15000 секунд (механические испытания)

Параметры Размер

、 Модель:QFN-24-0.5

B. Расстояние между штырьками (мм):0,5

C. Положение стопы: 24

D. Размер чипа: 4*4

Информация об изделии

Qfn24-0.5 чип тестовая база флип-старение база для программирования позолоченный штифт KZTQfn24-0.5 чип тестовая база флип-старение база для программирования позолоченный штифт KZTQfn24-0.5 чип тестовая база флип-старение база для программирования позолоченный штифт KZTQfn24-0.5 чип тестовая база флип-старение база для программирования позолоченный штифт KZTQfn24-0.5 чип тестовая база флип-старение база для программирования позолоченный штифт KZTQfn24-0.5 чип тестовая база флип-старение база для программирования позолоченный штифт KZT