Qfn40-0.4 чип Тесты база флип IC старения база программирования база Ic549-0404
  • Qfn40-0.4 чип Тесты база флип IC старения база программирования база Ic549-0404
  • Qfn40-0.4 чип Тесты база флип IC старения база программирования база Ic549-0404
  • Qfn40-0.4 чип Тесты база флип IC старения база программирования база Ic549-0404
  • Qfn40-0.4 чип Тесты база флип IC старения база программирования база Ic549-0404

Qfn40-0.4 чип Тесты база флип IC старения база программирования база Ic549-0404

4 364 руб.

Описание

QFN40-0.4Test подставка для шрапнели

Краткое описание продукта

A. Использование продукта:БЛОК ПРОГРАММИРОВАНИЯ, тестовый стенд, YesQFN40OfICChip горение, тест

B. Применимая Инкапсуляция:QFN40Pin spacing0.4mm

C. Испытательный стенд:QFN40-0.4

D, характеристика:UseUType наперсток, более стабильный контакт

E. Мы можем предоставить спецификации (макет), PDFfiles \ CAD

Параметры Размер

、 Модель:QFN-40-0.4

B. Расстояние между штырьками (мм):0,4

C. Положение стопы: 40

D. Размер чипа: 5*5

Информация об изделии:

Qfn40-0.4 чип Тесты база флип IC старения база программирования база Ic549-0404Qfn40-0.4 чип Тесты база флип IC старения база программирования база Ic549-0404Qfn40-0.4 чип Тесты база флип IC старения база программирования база Ic549-0404Qfn40-0.4 чип Тесты база флип IC старения база программирования база Ic549-0404Qfn40-0.4 чип Тесты база флип IC старения база программирования база Ic549-0404