Транзистор тестер обнаружения IC Meter диод 74/54 серии, AD/DA 4000/4500+ программное обеспечение

1 микросхема тестер

1,1 введение

В экспериментальной части обучения школы, использование интегрированного чипа требует много основных функций. Например, серия gate 74/54, AD/DA микроусилители, компараторы, транзисторы, оптосоединители и т. Д.

По мере того как ученики начинают выучать цепь, использование процесса, есть много случайных тупых ошибок, приводящих к повреждению чипа, чтобы вызвать много проблем позже в эксперименте, таким образом, в эксперименте, чтобы избежать таких факторов, экономия времени обучения, Необходимо использовать специальные тестировочные чипы проверки функции инструмента. Кроме того, этот чип-тестер поддерживает функцию автоматического поиска, найти чип будет автоматически отображаться после удачной модели.

Конечно,В другихСлучая, выМожет также использовать тестер для проверкиВIC гOodИли плохой.

1,2 Особенности

1 на основе стандартного интерфейса USB, plug and play;

2 стандартных 40-контактный разъем блокировки, самый большой размер 40Pin-кодВ IC;

3 системы с функцией самопроверки, модель чипа может автоматически определить;

4 может проверить чипы ttl серии 74/54, чип серии 4000/4500;

5 МожетТестовые усилители, компараторы, транзисторы, интегральные схемы, такие как чип с оптопарой;

6 можно использовать для тестирования AD, DA чип;

7 поддержка драйвера win2000/winxp/win2003/win7;

8 тестер оборудования и программного обеспечения независимый дизайн, chip library онлайн обновления в режиме реального времени, прост в использовании;

9 в соответствии с поставленными пользователем чипами для тестирования (быть настроенным).

1,3 Инструкция по применению

1. Сначала установите программное обеспечение, установка завершена, вставьте тестер чипа, система автоматически Подсказка для установки драйвера устройства, следуйте инструкциям, используя автоматическую установку.

(Примечание: При установкеПрограммное обеспечениеЗакрытьАнтивирусное программное обеспечение)

2 запускайте программное обеспечение для тестера чипов.

Процедура испытания выглядит следующим образом:

(1) в раскрывающемся списке «выбор типа» внутри категории «Выбор чипа»

(2) выберите хорошую категория, в которой определённое устройство, выберите конкретную модель чипа.

(3)Вставка чипа-Инкапсуляция DIP

Вставьте чип с выемкой вверх, выравнивая нижнюю линию с нижней

Линия розетки. На диаграмме ниже показан процесс вставки 28-Pin-код

Чип.

Чип вставки-Нет-DIP инкапсуляции

Гнездовые адаптеры доступны для других инкапсуляций, включая PLCC, QFP и

SOIC. См. Информацию о адаптере на экране информации об устройстве. В

Вставка следует за позицией штыря 1. Чтобы определить штырь 1 чипа, найдите твердый квадрат или точку на чипе, который дает информацию о чипе. Это также означает первый штырь чипа.

(3) Выберите чип, нажмите на кнопку «Тест», затем готовый индикатор будет светить тест er. Программное обеспечение автоматически тестирует указанный чип хорошо или неправильно.

(4) Если чип неразборчив, и не может знать специфическую модель чипа, вы можете выбрать кнопку "Автоматическое сканирование", программное обеспечение автоматически переносит в медиаторную систему с чипа внутри, если соответствие конкретных моделей, чип автоматически подает модель.

Примечание: автоматическое сканирование, это устройство, которое сканирует Текущая категория, если другие типы сканирования, проверьте другие категории, затем нажмите на кнопку "Автоматическое сканирование тест".

(5)ВПрограммное обеспечение покажет результат тестирования, пройденного илиОтказ, еслиПройденный результат покажетПодробная информацияСерия HC или LS.Для, Например,Результат покажет информацию о состоянииВставленыЧип 74HC00 или 74LS00.